목차 ■ 실험 목표 ■ 사용 부품 ■ 심층 탐구 실험용 부품 ■ 관련이론 ■ 실험순서 ■
심층 탐구
본문 ■ 실험 목표
이 실험에서는 다음 사항들에 대한 능력을 습득한다. ● 실험을 통한 OR 및
XOR의 진리표 작성 ● 펄스 파형을 이용한 OR 및 XOR 논리 게이트의 테스트 ● OR 및 XOR 게이트를 이용한 4비트 2진수의
1의 보수 또는 2의 보수를 취하는 회로 구성 ● 가상적 결함에 대한 보수 회로의 고장진단
■ 관련이론
실험
4에서는 두 가지의 중요한 게이트인 NAND와 NOR 게이트들에 대한 시험해 보고 모든 기본 게이트들의 진리표를 관찰하였다. 이번 실험에서는
OR와 XOR 게이트들에 대해 시험해 본다. 하지만 이번에는 한층 더 나아가 보고 응용회로에 이들을 사용해 본다.
본문내용 리
게이트의 테스트 ● OR 및 XOR 게이트를 이용한 4비트 2진수의 1의 보수 또는 2의 보수를 취하는 회로 구성 ● 가상적 결함에
대한 보수 회로의 고장진단 ■ 사용 부품 7432 quad OR 게이트 1개 7486 quad XOR 게이트 1개 LED
4개 저항 : 330 9개, 1.0K 1개 4비트 DIP 스위치 1개 SPST(single-pole single-throw)
스위치 1개 (결선으로 대치 가능) ■ 심층 탐구 실험용 부품 1.0K 3개 ■ 관련이론 실험 4에서는 두 가지의 중요한
게이트인 NAND와 NOR 게이트들에 대한 시험해 보고 모든 기본 게이트들의 진리표를 관찰하였다. 이번 실험에서는 OR와 XOR 게이트들에 대해
시험해 본다. 하지만 이번에는 한층 더 나아가 보고 응용회로에 이들 |
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